MicroSpotMonitor MSM+ は、マイクロからマクロ、フェムト秒からCW、VISからNIRに対応可能な最も多用途かつ洗練された高度なカメラベースのビームプロファイラです。
MicroSpotMonitor MSM+ は、USPレーザ(産業用超短パレスレーザ)及び 様々な波長の高輝度レーザを使用する増え続けるアプリケーション市場の要求を満たすように設計されています。 カメラベースのシステムにより、高い分解能と高精度でパワー密度分布を含む集光レーザ関連のパラメータをすべて測定します。
利点
新しいレーザ光源の開発、集光ヘッドの光路最適化、加工機械のレーザ性能の検証は、かつてないほど容易かつ信頼性の高いものになりました。 実績のあるMicroSpotMonitor の新しい「プラス世代」は、より速い測定速度、強化されたアルゴリズム、新しい測定モードを提供します。 レーザ解析ソフトウェア(LDS)の完全自動コースティック測定と新機能により、基本的な測定の使いやすさが向上すると同時に、ビームプロファイルの詳細分析のための詳細情報を提供できます。
テクニカル
MicroSpotMonitor MSM+ は、UV から NIR までのレーザを対象とした最も洗練された多用途でカメラベースの測定デバイスです。 MSM+ は独自設計と厳選したコンポーネントおよび光学素子により、平均パワー最大500Wのレーザやピコ秒又はフェムト秒の超短パルスレーザを減衰させて画像化することができます。
MSM+ は測定対物レンズを使用してCCD 上に入射ビームの拡大画像を結像します。 追加のアッテネータと様々なODフィルタを装備したフィルタホイールによりビームが徐々に減衰されます。
レーザ解析ソフトウェア(LDS)は画像化された 2 次元パワー密度分布を使用してビーム直径やビーム位置などの情報を算出します。 作業範囲の様々な位置でこの測定を繰り返すことで、コースティックを完全にするための全必要パラメータが決定されます。 インテグレートされた X 軸とY 軸を使用して簡単に調整ができます。
3種類の異なる測定対物レンズ (MOB)を提供しており、それぞれが NIRコーティングされており、オプションで第 2 および第 3 高調波用にもコーティングが可能です。対物レンズは倍率、最大許容 NA、可能なワークディスタンスにより異なります。 2 つの追加内部ビームパスにより、適切な倍率が 0.3倍 および 1.8 倍拡張されます。 インテグレートされた安全回路により機器の状態を監視し、障害が発生した場合には即座にレーザを停止させます。
要約
様々な波長のパルスレーザ又はCWレーザのレーザシステムを詳細にモニタできます。 集光レーザ又はファイバーレーザのパワー密度分布により、根本的な原因分析が容易になります。 光学表面上の歪み、収差、スパッタ、欠陥を直接検出し、的を絞った方法で適切な対策を即座に開始できます。
