Der vielseitigste und fortschrittlichste kamerabasierte Strahlprofiler für Mikro bis Makro, Femto bis cw und VIS bis NIR.
Der MicroSpotMonitor MSM+ wurde entwickelt, um die Anforderungen des Marktes für immer mehr Anwendungen mit USP- und hochbrillanten Laserquellen bei verschiedenen Wellenlängen zu erfüllen. Das kamerabasierte System misst alle relevanten Parameter eines fokussierten Lasers, einschließlich der Leistungsdichteverteilung mit höchster Auflösung und Genauigkeit.
Ihr Vorteil
Noch nie war die Entwicklung neuer Laserquellen, die Optimierung des optischen Weges von Fokussierköpfen oder die Überprüfung der Leistung von Lasern in Bearbeitungsmaschinen so einfach und zuverlässig. Die neue „Plus-Generation“ unseres bewährten MicroSpotMonitors bietet höhere Messraten, verbesserte Algorithmen und neue Messmodi. Vollautomatische Kaustikmessungen und neue Funktionen in unserer LaserDiagnosticsSoftware LDS erhöhen die Benutzerfreundlichkeit für grundlegende Messungen und liefern gleichzeitig detaillierte Informationen für tiefgreifende Analysen Ihres Strahlprofils.
Tech Corner
Der MicroSpotMonitor MSM+ ist das modernste und vielseitigste kamerabasierte Messgerät für Laser im UV- bis NIR-Bereich. Mit seinem einzigartigen Design und seinen perfekt ausgewählten Komponenten und optischen Elementen ist der MSM+ ideal geeignet, um einen Laserstrahl mit bis zu 500 W Durchschnittsleistung oder ultrakurz gepulste Laser im Piko- oder Femtosekundenbereich abzuschwächen und abzubilden.
Das MSM+ erzeugt mit Hilfe des Messobjektivs ein vergrößertes Bild des einfallenden Strahls auf dem CCD. Zusätzliche Abschwächer sowie ein mit verschiedenen OD-Filtern bestücktes Filterrad schwächen den Strahl stufenweise ab.
Aus der abgebildeten zweidimensionalen Leistungsdichteverteilung errechnet unsere LaserDiagnostikSoftware LDS Informationen wie Strahldurchmesser und -ort. Durch Wiederholung dieser Messung an verschiedenen Positionen entlang des Arbeitsbereichs werden alle Parameter bestimmt, die zur vollständigen Beschreibung der künstlichen Kaustik erforderlich sind. Zur einfachen Justierung steht eine integrierte x- und y-Achse zur Verfügung.
Wir bieten 3 verschiedene Messobjektive (MOB) an, die jeweils im NIR und optional für die 2. und 3. harmonische Wellenlänge beschichtet sind. Die Objektive unterscheiden sich im Wesentlichen in der erzielten Vergrößerung, der maximal zulässigen NA und dem möglichen Arbeitsabstand. Zwei zusätzliche interne Strahlengänge erweitern die geeignete Vergrößerung um 0,3 und 1,8. Ein integrierter Sicherheitskreis überwacht den Zustand der Geräte und schaltet den Laser im Falle eines Fehlers sofort ab.
Fazit
Lasersysteme, die mit gepulsten oder cw-Lasern bei verschiedenen Wellenlängen ausgestattet sind, können sehr detailliert überwacht werden. Leistungsdichteverteilungen entlang der Ausbreitung des fokussierten oder fasergeführten Lasers ermöglichen eine einfache Ursachenanalyse. Verzerrungen, Aberrationen oder, was häufiger vorkommt, Spritzer und Defekte auf optischen Oberflächen können direkt erkannt werden. Geeignete Gegenmaßnahmen können gezielt und sofort eingeleitet werden.
